中国机电产品进出口商会

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标准详细信息

标准号:	IEC 60747-5-3 Edition 1.1-2009
中文题名：	分立半导体器件及集成电路.第5-3部分:光电元件.测量方法
英文题名：	Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods
原文题名：
发布出版日期：	2009-11	实施日期：		确认日期：
发布或出版单位：	IX-IEC	开本页数：	86P;A4
被代替标准信息：
引用信息信息：
相关分类号：	中国标准分类号：	L55
	国际标准分类号：	31.080.99 31.260
相关关键词：	频带宽度暗电流二极管分立器件显示装置电性质和电现象电子设备及元件绝缘电阻绝缘测试集成电路发光强度测量测量技术光电子器件光耦合器光电二极管辐射强度半导体器件试验 Bandwidths Dark current Diodes Discrete devices Display devices Electrical properties and phenomena Electronic equipment and components Insulating resistance Insulation test Integrated circuits Luminous intensity Measurement Measuring techniques Optoelectronic devices Photocouplers Photodiodes Radiant intensity Semiconductor devices Testing