中国机电产品进出口商会

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标准详细信息

标准号:	GB/T 11713-1989
中文题名：	用半导体γ谱仪分析低比活度 γ放射性样品的标准方法
英文题名：	Standard methods of analyzing low specific gamma radioactivity samples by semiconductor gamma spectrometers
原文题名：
发布出版日期：	1989-09-21	实施日期：	1990-07-01	确认日期：	2004-10-14
发布或出版单位：	CN-GB	开本页数：	11P.;A4
被代替标准信息：
引用信息信息：
相关分类号：	中国标准分类号：	C57
	国际标准分类号：	13.280
相关关键词：	光谱学样本辐射测量 γ射线仪 γ辐射半导体器件 Gamma-ray apparatus Radiation measurement Samples Spectroscopy Semiconductor devices Gamma-radiation

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