中国机电产品进出口商会

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标准详细信息

标准号:	BS ISO 29301-2010
中文题名：	微光束分析.分析透射电子显微镜法.利用具有周期性结构的标准物质进行标定图像放大的方法
英文题名：	Microbeam analysis - Analytical transmission electron microscopy - Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
原文题名：
发布出版日期：	2010-06-30	实施日期：	2010-06-30	确认日期：
发布或出版单位：	GB-BSI	开本页数：	52P;A4
被代替标准信息：	09/30179503 DC-2009
引用信息信息：
相关分类号：	中国标准分类号：	N33
	国际标准分类号：	37.020
相关关键词：	分析分析法校准定义衍射电子束电子衍射电子显微镜电子显微镜学调焦点图像产品放大分析方法微量分析显微术光学仪器图象传输换算清晰度传输 Analysis Analytical methods Calibration Definitions Diffraction Electron beams Electron diffraction Electron microscopes Electron microscopy Focusing Image production Magnification Methods of analysis Microanalysis Microscopy Optical instruments Picture transmissions Scaling Sharpness Transmission