中国机电产品进出口商会

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标准详细信息

标准号:	BS ISO 14606-2001
中文题名：	表面化学分析.溅射深度剖面测定.采用作为参考材料的成层系统最优化
英文题名：	Surface chemical analysis - Sputter depth profiling - Optimization using layered systems as reference materials
原文题名：
发布出版日期：	2001-01-15	实施日期：	2001-01-15	确认日期：
发布或出版单位：	GB-BSI	开本页数：	24P.;A4
被代替标准信息：	99/121064 DC-1999
引用信息信息：
相关分类号：	中国标准分类号：	A04
	国际标准分类号：	71.040.40
相关关键词：	表面性质化学分析和试验显微分析参比状态光谱化学分析光谱学电子发射叠层板材表面化学轮廓测量 X射线控制样品辐射测量螺旋钻质谱学深度 Atomization Chemical analysis and testing Definition Definitions Depth profile Determination of content Electron spectroscopy Finishes Ion beams Layers Optimization Reference materials X-ray spectrometry