中国机电产品进出口商会

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标准详细信息

标准号:	BS IEC 60747-5-3-1998
中文题名：	分立半导体器件和集成电路.光电器件.测量方法
英文题名：	Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Optoelectronic devices. Measuring methods
原文题名：
发布出版日期：	1998-01-15	实施日期：	1998-01-15	确认日期：
发布或出版单位：	GB-BSI	开本页数：	34P.;A4
被代替标准信息：
引用信息信息：
相关分类号：	中国标准分类号：	L50
	国际标准分类号：	31.260
相关关键词：	电子设备及元件半导体器件光发射光电子器件电压集成电路强度光度计光敏材料测量仪器发射发光器件辐射发光能力光电晶体管 light-sensitized materials emission luminosity voltage phototransistors photometers intensity semiconductor devices radiation optoelectronic devices light emission electronic equipment and components integrated circuits measuring instruments light-emitting devices