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标准详细信息
标准号: BS IEC 60747-2-2000
中文题名: 分立的半导体器件器件和集成电路.整流二极管
英文题名: Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Rectifier diodes
原文题名:
发布出版日期: 2000-07-15 实施日期: 2000-07-15 确认日期:
发布或出版单位: GB-BSI 开本页数: 68P.;A4
被代替标准信息: 97/201807 DC-1997
BS 6493-1.2-1984
引用信息信息:
相关分类号: 中国标准分类号: L43
国际标准分类号: 31.080.10  
相关关键词:
疲劳试验 合格试验 二极管 验收检验 连续性试验 整流二极管 分立器件 半导体 可靠度 电子设备及元件 电学测量 电子工程 组件 元部件 电气工程 测量技术 常规检验 检验 极限(数学) 额定值 集成电路 定义 定义 规范(验收) 测量 作标记 符号 半导体器件
Acceptance inspection Components Continuity tests Definition Definitions Diodes Discrete devices Electrical engineering Electrical measurement Electronic engineering Electronic equipment and components Fatigue tests Inspection Integrated circuits Limits (mathematics) Marking Measurement Measuring techniques Qualification tests Ratings Rectifier diodes Reliability Routine check tests Semiconductor devices Semiconductors Specification (approval) Symbols

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