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标准详细信息

标准号:	BS IEC 60747-14-1-2010
中文题名：	半导体器件.半导体传感器.传感器用一般规范
英文题名：	Semiconductor devices - Semiconductor sensors - Generic specification for sensors
原文题名：
发布出版日期：	2010-04-30	实施日期：	2010-04-30	确认日期：
发布或出版单位：	GB-BSI	开本页数：	26P;A4
被代替标准信息：	08/30181401 DC-2008 BS IEC 60747-14-1-2000
引用信息信息：
相关分类号：	中国标准分类号：	L40
	国际标准分类号：	31.080.99
相关关键词：	元部件连接定义分立器件电气工程电子工程电子设备及元件总规范检验集成电路布置寿命极限(数学) 作标记标记测量测量技术额定值半导体器件半导体传感器半导体传感器规范(验收) 符号测试 Components Connections Definitions Discrete devices Electrical engineering Electronic engineering Electronic equipment and components Generic specification Inspection Integrated circuits Layout Life (durability) Limits (mathematics) Marking Marks Measurement Measuring techniques Ratings Semiconductor devices Semiconductor sensor Semiconductors Sensors Specification (approval) Symbols Testing

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