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标准详细信息
标准号: BS EN 165000-2-1996
中文题名： 薄膜集成电路和混合集成电路.内部目视检验和专用试验
英文题名： Film and hybrid integrated circuits. Internal visual inspection and special tests
原文题名：
发布出版日期： 1996-10-15 实施日期： 1996-10-15 确认日期：
发布或出版单位： GB-BSI 开本页数： 40P.;A4
被代替标准信息： 94/216399 DC-1994
引用信息信息：
相关分类号： 中国标准分类号： L57;L58
国际标准分类号： 31.200  
相关关键词：
宏观检查 外观检查(试验) 混合集成电路 膜集成电路 腐蚀检查 探伤 能力鉴定 集成电路 试验(质量保证) 放射性试验 认可试验 显微分析 电子设备及元件 定义 质量保证体系 评估的质量 质量保证 质量评估 电连接 声学检验
Approval testing Capability approval Definitions Electrical connections Electrical engineering Electronic equipment and components Etch inspection Examination (quality assurance) Film circuits Flaw detection Generic specification Hybrid film integrated circuits Hybrid integrated circuits Integrated circuits Integrated film circuits Macroscopic examination Microscopic analysis Quality assessment Quality assurance Quality assurance systems Quality control Radiographic testing Sonic testing Testing Visual inspection (testing)

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